thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/1000
מסדרת thicknessCONTROL MTS 8202.K
thicknessCONTROL MTS 8202.K — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
- דיוק מערכת
- 2.5 µm
מפרט טכני
כל הנתונים ההנדסיים, מסודרים לסריקה מהירה
| רזולוציה | 0.36 µm |
|---|---|
| יציאות וממשקים | Digital I/O |
| טמפרטורת עבודה | 5–40 °C |
| רוחב חומר מרבי | 800 mm |
| פרטי מפרט טכני | 30 mm thickness measuring range; 800 mm named measuring width; article 4350127.46. |
| דיוק מערכת | 2.5 µm |
| חזרתיות | 2 µm |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Analog 0-10V |
| מגע | ללא מגע |
ערכים לפי תצורה
ערכים אלה משתנים לפי הבקר או הממשק שאיתם החיישן עובד. כל שורה חלה על תצורה אחת בלבד; את התצורה בודקים בהרכבת המערכת או מולנו.
| ממשקים מובנים | EtherCAT |
|---|---|
| ממשקים מובנים | PROFINET |
| ממשקים מובנים | Ethernet |
אביזרים תואמים
מוצרים משלימים
-
IF1032/ETH
יש להתאים את יציאת הראש או הבקר, פינים וקצה כבל ייעודי. יש לבדוק תדר מוצא, רישיונות והזנה של שרשרת המדידה כולה; מודול התקשורת אינו משפר את דיוק החיישן.; זהו מסלול המרה מותנה, לא תאימות מלאה מאומתת. יש לקבל אישור לשרשרת המדידה לפני הזמנה.; תדר מוצא מרבי של מסלול זה: 4000 הרץ.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.
בקשת הצעת מחיר למוצר הזה