SC2510-575
מסדרת surfaceCONTROL 3D 2500
surfaceCONTROL 3D 2500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
- טווח מדידה בציר Z
- 300 mm
מפרט טכני
כל הנתונים ההנדסיים, מסודרים לסריקה מהירה
| סוג סורק תלת־ממד | Snapshot |
|---|---|
| חזרתיות | 3 µm |
| רזולוציה בציר X | 250 µm |
| רזולוציה | 8.5 µm |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. |
| בסיס קצב הדגימה | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. |
| פרטי מפרט טכני | Start 500 x 375 mm at 950 mm; center 575 x 435 mm at 1100 mm; end 650 x 495 mm at 1250 mm. |
| רזולוציה בציר Y | 250 µm |
| דרגת אטימות IP | IP40 |
| טווח מדידה בציר Y | 435 mm |
| טווח מדידה בציר X | 575 mm |
| טווח מדידה בציר Z | 300 mm |
| טמפרטורת עבודה | 5–40 °C |
| קצב דגימת ADC | 2 samples/s |
| מרחק עבודה | 950–1250 mm |
| יציאות וממשקים | Digital I/O |
ערכים לפי תצורה
ערכים אלה משתנים לפי הבקר או הממשק שאיתם החיישן עובד. כל שורה חלה על תצורה אחת בלבד; את התצורה בודקים בהרכבת המערכת או מולנו.
| ממשקים מובנים | EtherCAT |
|---|---|
| ממשקים מובנים | USB |
| ממשקים מובנים | Ethernet |
| ממשקים מובנים | PROFINET |
אביזרים תואמים
מוצרים משלימים
-
2D/3D Gateway II
מחייב שרשרת עיבוד מתועדת עם מחשב, 3DInspect ורישיונות; אינו כבל ישיר למידע תלת־ממדי גולמי. גרסת 3x00 להגדרה אינה שקולה לגרסת 3x10 לעיבוד אוטומטי.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.
בקשת הצעת מחיר למוצר הזה